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GBW13963氮化硅薄膜膜厚質(zhì)控樣/GBW13963氮化硅薄膜膜厚分析樣/氮化硅薄膜膜厚標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)編號(hào)GBW13963
發(fā)布時(shí)間:2019/11/25 8:51:25 瀏覽次數(shù):868
GBW13963氮化硅薄膜膜厚標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì),GBW13963氮化硅薄膜膜厚分析樣
英文名稱 Thin Film Thickness CRM of Si/Si3N4 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)證書英文
應(yīng)用領(lǐng)域 物理學(xué)與物理化學(xué)/光學(xué)特性 保存條件 真空包裝,陰涼、干燥處存放 使用注意事項(xiàng) 樣品開封使用應(yīng)保證取樣工具等潔凈,避免樣品沾污。 特征形態(tài) 固態(tài) 基體
主要分析方法
規(guī)格 外包裝為鋁箔真空袋,每包裝為一片,20 mm乘以20 mm 量值信息
標(biāo)準(zhǔn)值 不確定度 單位 CAS 備注 氮化硅薄膜膜厚 151.8 1.0 nm