GBW13967二氧化硅納米薄膜厚度分析樣,GBW13967二氧化硅納米薄膜厚度標準值
發(fā)布時間：2019/12/4 8:37:36 瀏覽次數：923
GBW13967二氧化硅納米薄膜厚度分析樣主要用于物理學與物理化學/光學特性，貯存在陰涼干燥的室溫環(huán)境條件下，運輸過程中必須保持包裝的完整，使用過程中必須保持樣品表面清潔，主要分析方法是掠入射X射線反射測量和橢偏測量，每盒1片，量值信息如下：
量值信息
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標準值
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不確定度
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單位
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CAS
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備注
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二氧化硅納米薄膜厚度
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21.70
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0.42
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nm
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